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现代材料表征方法及实用案例
出版社：天津大学出版社
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出版日期：1970-01-01
页数：
作者：
版次：1
字数：千
定价：0.00元
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ISBN: 978-7-5618-0000-0
印次：1
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1.2影响成像的主要影响因素
1.4扫描电镜能谱测试
3.XRD结晶度计算
3. 开尔文探针力显微镜（kpfm）测试
2.XRD物相分析
6.电子顺磁共振测试-低温测试
2. 原子力显微镜（AFM）测试
4.电子顺磁共振波谱仪空位测试
1.3扫描电镜样品制备
1.XRD试样制备
3.电子顺磁共振测试-仪器参数的设置
3. WDS 进行元素线扫描分析
2. WDS 进行元素定量点分析
1.电子顺磁共振波谱仪的基本构造
4. WDS 进行元素面分布分析
2.电子顺磁共振测试-样品的制备
4 UPS分析测试
3 XPS深度剖析分析测试
2 XPS平行成像分析测试
1 XPS常规取谱分析测试
1.1扫描电镜图像采集
1. 原子力显微镜粉末样品的制备
2. TEAM软件的EBSD数据采集
3.TSL OIM Analysis软件的EBSD数据处理
2.正带轴下的高分辨图像观察
3.透射电镜下晶体结构软件分析
9-聚焦离子束技术制备TEM试样
5.电子顺磁共振波谱仪羟基自由基和超氧自由基测试
6.透射电镜块状样品制备
1.EBSD样品的装载与倾转
1 LSCM的工作原理
1. 样品台装载
3 LSCM高分辨三维成像
4.透射电镜三维重构结果示例
5.透射电镜观察放样操作
1.电子衍射产生原理图
8 透射块状样品制备（离子减薄仪）
2 LSCM多荧光标记成像
4.EBSD样品制备预处理—机械抛光
6.离子束抛光法制备EBSD样品—截面样品制备